當“精度焦慮"成為制造業的隱形門檻:
在半導體光刻中,1nm偏差可能導致整片晶圓報廢;
在精密機床加工中,熱變形讓傳統測量工具“失靈"……
“高精度、高穩定、抗干擾"——工業超精密制造的三大痛點,如何破局?
PLR3000系列光纖激光尺基于激光干涉測量原理,具有更加精確的柵距和更高的分辨率,同時其熱源隔離設計,保證了更高的穩定性,同時具有安裝快捷,易于準直等特點,在微電子、微機械、微光學等現代超精密加工制造、光刻技術等高科技領域廣泛應用。
分辨率10nm(可拓展),線性測量精度0.2ppm,穩頻精度0.02ppm,滿足納米級測量需求。
環境氣象站實時補償溫度、濕度、氣壓對測量的影響,確保數據長期穩定。
支持單軸、雙軸、三軸輸出,輕松實現多自由度測量。
可選差分干涉儀、平面鏡干涉儀、角錐棱鏡干涉儀等多種探頭,適配復雜場景。
激光光源與探頭分離設計,3米鎧裝光纖連接,避免設備散熱干擾,安裝靈活。
體積小巧,適配狹小空間,降低阿貝誤差風險。
最大量程4米(可拓展),支持動態速度達2m/s,覆蓋從靜態檢測到高速運動場景。
光纖激光尺比傳統光柵精度高10倍,分辨率達原子層級(10nm=100個原子直徑!) PLR3000 系列光纖激光尺已在多個客戶端進行精度驗證:用差分干涉(DI)探頭對高精度納米位移臺進行閉環控制,在10mm行程內任意位置實現納米級位置控制精度。